Optical Scattering
Measurement and Analysis
Vše od
SPIE Press
ISBN: 9781510690288
Exploring the link between surface roughness and light scatter, the text connects BRDF and fractional scatter to rapid product inspection. It explains how scatterometry detects semiconductor defects and appearance variations in everyday items, offering practical methods for swift quality control.
2 313 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 313 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 290 Kč
- 11 a více ks
- 2 268 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od SPIE Press ↓
2 313 Kč
Více o produktu ↓
Exploring the link between surface roughness and light scatter, the text connects BRDF and fractional scatter to rapid product inspection. It explains how scatterometry detects semiconductor defects and appearance variations in everyday items, offering practical methods for swift quality control.
- Výrobce
- SPIE Press
- Jazyk
- United States
- Autor
- Stover, John C.
- Rok vydání
- 2025
- Počet stran
- 368
- Obsah
- Paperback / softback
- Počet stran
- 368 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Optical Scattering a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
