Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation
Vše od
Springer Verlag, Singapore
ISBN: 9789811304538
It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy.
4 112 Kč
- 1 - 2 ks
- 4 112 Kč
- 3 - 10 ks
- 4 071 Kč
- 11 a více ks
- 4 031 Kč
Naše cena 4 112 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 4 375 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer Verlag, Singapore ↓
Interplay of Geo-Politics and Geo-Economics in PakistanÂ’s Foreign Policy (Post-2008)
do 27. května3 231 Kč
4 112 Kč
Více o produktu ↓
It showcases recent advances in scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and helium ion microscopy, including advanced spectroscopy, spherical-corrected microscopy, focused-ion imaging and in-situ microscopy.
- Výrobce
- Springer Verlag, Singapore
- Jazyk
- Singapore
- Rozměry
- 235 x 155
- Rok vydání
- 2018
- Počet stran
- 508
- Obsah
- Hardback
- Počet stran
- 508 pages, 26 Illustrations, color; 307 Illustrations, black and white
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
