Radar Scattering and Imaging of Rough Surfaces

Modeling and Applications with MATLAB®

Chen, Kun-Shan (Chinese Academy of Sciences, Beijing, China) | Autoři

Vše od Taylor & Francis Ltd
ISBN: 9781138541269

Focusing on most advanced analytical and numerical modeling, this book connects scattering process to imaging techniques by vivid examples through numerical and experimental demonstrations and provides computer codes and practical uses. This book is unique in treating radar scattering and imaging...

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

4 688 Kč

1 - 2 ks
4 688 Kč
3 - 10 ks
4 642 Kč
11 a více ks
4 596 Kč

Předpoklad doručení do 27. května *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

4 688 Kč

Nepřehlédněte od Taylor & Francis Ltd

Více o produktu

Focusing on most advanced analytical and numerical modeling, this book connects scattering process to imaging techniques by vivid examples through numerical and experimental demonstrations and provides computer codes and practical uses. This book is unique in treating radar scattering and imaging simultaneously.

Výrobce
Taylor & Francis Ltd
Jazyk
United Kingdom
Autor
Chen, Kun-Shan (Chinese Academy of Sciences, Beijing, China)
Rozměry
162 x 241 x 25
Rok vydání
2020
Počet stran
323
Obsah
Hardback
Hmotnost
702
Počet stran
323 pages, 38 Tables, black and white; 248 Illustrations, color

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Radar Scattering and Imaging of Rough Surfaces a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!