Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Vše od
John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9780471731726
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or...
4 816 Kč
- 1 - 2 ks
- 4 816 Kč
- 3 - 10 ks
- 4 768 Kč
- 11 a více ks
- 4 722 Kč
Naše cena 4 816 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 5 124 Kč.
Předpoklad doručení do 1. června *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od John Wiley & Sons Inc ↓
4 816 Kč
Více o produktu ↓
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience.
- Výrobce
- John Wiley & Sons Inc
- Jazyk
- United States
- Autor
- Strong, Alvin W. (IBM);Wu, Ernest Y. (IBM);Vollertsen, Rolf-Peter (Infineon);Sune, Jordi (Universitat Autonoma de Barcelona, Spain);La Rosa, Giuseppe (IBM);Sullivan, Timothy D. (IBM);Rauch, Stewart E.
- Rozměry
- 243 x 164 x 34
- Rok vydání
- 2009
- Počet stran
- 640
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 993
- Počet stran
- 640 pages, Photos: 25 B&W, 0 Color; Drawings: 475 B&W, 0 Color; Tables: 70 B&W, 0 Color
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
