RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors

Jenkins, Keith A. | Autoři

Vše od Springer Nature Switzerland AG
ISBN: 9783030777777

This book presents a variety of techniques using high-frequency (RF) and time-domain measurements to understand the electrical performance of novel, modern transistors made of materials such as graphene, carbon nanotubes, and silicon-on-insulator, and using new transistor structures.

Více o produktu


Nejprodávanější produkty v aktuálním měsíci.

1 615 Kč

1 - 2 ks
1 615 Kč
3 - 10 ks
1 599 Kč
11 a více ks
1 583 Kč

Naše cena 1 615 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 1 719 Kč.

Předpoklad doručení do 15. června *

* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.

1 615 Kč 1 719 Kč

Nepřehlédněte od Springer Nature Switzerland AG

Více o produktu

This book presents a variety of techniques using high-frequency (RF) and time-domain measurements to understand the electrical performance of novel, modern transistors made of materials such as graphene, carbon nanotubes, and silicon-on-insulator, and using new transistor structures.

Výrobce
Springer Nature Switzerland AG
Jazyk
Switzerland
Autor
Jenkins, Keith A.
Rozměry
235 x 155
Rok vydání
2022
Počet stran
168
Obsah
Paperback / softback
Počet stran
168 pages, 87 Illustrations, color; 41 Illustrations, black and white

Zanechte své hodnocení

Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s RF and Time-domain Techniques for Evaluating Novel Semiconductor Transistors a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.

Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!