Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Third Edition
Vše od
Springer Science+Business Media
ISBN: 9780306472923
In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.
2 937 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 937 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 908 Kč
- 11 a více ks
- 2 879 Kč
Naše cena 2 937 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 3 125 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer Science+Business Media ↓
2 937 Kč
Více o produktu ↓
In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.
- Výrobce
- Springer Science+Business Media
- Jazyk
- United States
- Autor
- Goldstein, Joseph;Newbury, Dale E.;Joy, David C.;Lyman, Charles E.;Echlin, Patrick;Lifshin, Eric;Sawyer, Linda;Michael, J.R.
- Rozměry
- 255 x 178 x 38
- Rok vydání
- 2003
- Počet stran
- 689
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 1684
- Počet stran
- 689 pages, XIX, 689 p. With online files/update.
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
