Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Vše od
Springer-Verlag New York Inc.
ISBN: 9781493966745
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis od autora Goldstein, Joseph I.;Newbury, Dale E.;Michael, Joseph R.;Ritchie, Nicholas W.M.;Scott, John Henry J.;Joy, David C. vydalo nakladatelství Springer-Verlag New York Inc. ...
2 937 Kč
- 1 - 2 ks
- 2 937 Kč
- 3 - 10 ks
- 2 908 Kč
- 11 a více ks
- 2 879 Kč
Naše cena 2 937 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 3 125 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer-Verlag New York Inc. ↓
2 937 Kč
Více o produktu ↓
- Výrobce
- Springer-Verlag New York Inc.
- Jazyk
- United States
- Autor
- Goldstein, Joseph I.;Newbury, Dale E.;Michael, Joseph R.;Ritchie, Nicholas W.M.;Scott, John Henry J.;Joy, David C.
- Rozměry
- 217 x 284 x 34
- Rok vydání
- 2017
- Počet stran
- 550
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 1932
- Počet stran
- 550 pages, 409 Illustrations, color; 137 Illustrations, black and white; XXIII, 550 p. 546 illus., 4
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
