Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces
Vše od
Brill
ISBN: 9789067640787
This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces
4 375 Kč
- 1 - 2 ks
- 4 375 Kč
- 3 - 10 ks
- 4 332 Kč
- 11 a více ks
- 4 289 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Brill ↓
4 375 Kč
Více o produktu ↓
This volume is devoted to the physics, instrumentation and analytical methods of secondary ion mass spectroscopy (SIMS) in relation to solid surfaces
- Výrobce
- Brill
- Jazyk
- Netherlands
- Rozměry
- 234 x 156
- Rok vydání
- 1987
- Počet stran
- 138
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 362
- Počet stran
- 138 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!