Semiconductor Material and Device Characterization
Vše od
John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9780471739067
This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.
5 315 Kč
- 1 - 2 ks
- 5 315 Kč
- 3 - 10 ks
- 5 262 Kč
- 11 a více ks
- 5 211 Kč
Naše cena 5 315 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 5 655 Kč.
Předpoklad doručení do 1. června *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od John Wiley & Sons Inc ↓
5 315 Kč
Více o produktu ↓
This Third Edition updates a landmark text with the latest findings The Third Edition of the internationally lauded Semiconductor Material and Device Characterization brings the text fully up-to-date with the latest developments in the field and includes new pedagogical tools to assist readers.
- Výrobce
- John Wiley & Sons Inc
- Jazyk
- United States
- Autor
- Schroder, Dieter K. (Arizona State University)
- Rozměry
- 164 x 243 x 51
- Rok vydání
- 2006
- Počet stran
- 800
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 1324
- Počet stran
- 800 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Semiconductor Material and Device Characterization a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
