Spectroscopic Ellipsometry
Principles and Applications
Vše od
John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9780470016084
Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE).
5 022 Kč
- 1 - 2 ks
- 5 022 Kč
- 3 - 10 ks
- 4 972 Kč
- 11 a více ks
- 4 924 Kč
Naše cena 5 022 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 5 342 Kč.
Předpoklad doručení do 3. června *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od John Wiley & Sons Inc ↓
5 022 Kč
Více o produktu ↓
Ellipsometry is a powerful tool used for the characterization of thin films and multi-layer semiconductor structures. This book deals with fundamental principles and applications of spectroscopic ellipsometry (SE).
- Výrobce
- John Wiley & Sons Inc
- Jazyk
- United States
- Autor
- Fujiwara, Hiroyuki (National Institute of Advanced Industrial Science & Technology, Tsukuba, Japan)
- Rozměry
- 235 x 157 x 26
- Rok vydání
- 2007
- Počet stran
- 392
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 762
- Počet stran
- 392 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Spectroscopic Ellipsometry a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
