Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry
A User's Guide
Vše od
John Wiley & Sons Inc
ISBN: 9780471181729
While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques...
4 581 Kč
- 1 - 2 ks
- 4 581 Kč
- 3 - 10 ks
- 4 536 Kč
- 11 a více ks
- 4 491 Kč
Naše cena 4 581 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 4 874 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od John Wiley & Sons Inc ↓
4 581 Kč
Více o produktu ↓
While single wave ellipsometry has been around for years, spectroscopic ellipsometry is fast becoming the method of choice for measuring the thickness and optical properties of thin films. This book provides the first practical introduction to spectroscopic ellipsometry and the related techniques of reflectometry.
- Výrobce
- John Wiley & Sons Inc
- Jazyk
- United States
- Autor
- Tompkins, Harland G. (Motorola, Inc.);McGahan, William A. (Nanometrics, Inc.)
- Rozměry
- 163 x 237 x 19
- Rok vydání
- 1999
- Počet stran
- 248
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 516
- Počet stran
- 248 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
