Stray Light Analysis and Control
Vše od
SPIE Press
ISBN: 9780819493255
Addresses stray light terminology, radiometry, and the physics of stray light mechanisms, such as surface roughness scatter and ghost reflections. The most-efficient ways of using stray light analysis software packages are included. The book also demonstrates how the basic principles are applied...
1 375 Kč
- 1 - 2 ks
- 1 375 Kč
- 3 - 10 ks
- 1 361 Kč
- 11 a více ks
- 1 348 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od SPIE Press ↓
1 375 Kč
Více o produktu ↓
Addresses stray light terminology, radiometry, and the physics of stray light mechanisms, such as surface roughness scatter and ghost reflections. The most-efficient ways of using stray light analysis software packages are included. The book also demonstrates how the basic principles are applied in the design, fabrication, and testing phases of optical system development.
- Výrobce
- SPIE Press
- Jazyk
- United States
- Autor
- Fest, Eric
- Rozměry
- 180 x 255 x 15
- Rok vydání
- 2013
- Počet stran
- 228
- Obsah
- Paperback / softback
- Hmotnost
- 422
- Počet stran
- 228 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Stray Light Analysis and Control a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
