Surface and Thin Film Analysis
A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications
Vše od
Wiley-VCH Verlag GmbH
ISBN: 9783527320479
Completely revised and updated, this second edition of a bestseller surveys and compares all techniques relevant for practical applications. New chapters cover such recent methods as SNOM, SERS, and laser ablation. With over 500 references and a list of equipment suppliers.
4 249 Kč
- 1 - 2 ks
- 4 249 Kč
- 3 - 10 ks
- 4 207 Kč
- 11 a více ks
- 4 166 Kč
Naše cena 4 249 Kč je o 15 % nižší než
doporučená cena výrobce 4 999 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Wiley-VCH Verlag GmbH ↓
4 249 Kč
Více o produktu ↓
Completely revised and updated, this second edition of a bestseller surveys and compares all techniques relevant for practical applications. New chapters cover such recent methods as SNOM, SERS, and laser ablation. With over 500 references and a list of equipment suppliers.
- Výrobce
- Wiley-VCH Verlag GmbH
- Jazyk
- Germany
- Rozměry
- 182 x 248 x 31
- Rok vydání
- 2011
- Počet stran
- 558
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 1186
- Počet stran
- 558 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Surface and Thin Film Analysis a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
