Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Vše od
Springer Verlag, Singapore
ISBN: 9789811931345
This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management.
3 819 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 819 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 781 Kč
- 11 a více ks
- 3 744 Kč
Naše cena 3 819 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 4 062 Kč.
Předpoklad doručení do 10. června *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Springer Verlag, Singapore ↓
Interplay of Geo-Politics and Geo-Economics in PakistanÂ’s Foreign Policy (Post-2008)
do 10. června3 231 Kč
3 819 Kč
Více o produktu ↓
This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management.
- Výrobce
- Springer Verlag, Singapore
- Jazyk
- Singapore
- Autor
- Du, Xiong;Zhang, Jun;Li, Gaoxian;Yu, Yaoyi;Qian, Cheng;Du, Rui
- Rozměry
- 235 x 155
- Rok vydání
- 2023
- Počet stran
- 172
- Obsah
- Paperback / softback
- Počet stran
- 172 pages, 94 Illustrations, color; 27 Illustrations, black and white
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
