VLSI Fault Modeling and Testing Techniques
Vše od
Bloomsbury Publishing PLC
ISBN: 9780893917814
This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits; designing CMOS gates to test open faults; testing bridging faults in VLSI; and testable design synthesis models.
1 875 Kč
- 1 - 2 ks
- 1 875 Kč
- 3 - 10 ks
- 1 856 Kč
- 11 a více ks
- 1 838 Kč
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Bloomsbury Publishing PLC ↓
1 875 Kč
Více o produktu ↓
This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits; designing CMOS gates to test open faults; testing bridging faults in VLSI; and testable design synthesis models.
- Výrobce
- Bloomsbury Publishing PLC
- Jazyk
- United States
- Rok vydání
- 1993
- Počet stran
- 200
- Obsah
- Hardback
- Počet stran
- 200 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s VLSI Fault Modeling and Testing Techniques a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
