X-Ray Diffraction for Materials Research
From Fundamentals to Applications
Vše od
Apple Academic Press Inc.
ISBN: 9781771882989
This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the...
3 750 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 750 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 713 Kč
- 11 a více ks
- 3 676 Kč
Předpoklad doručení do 28. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Apple Academic Press Inc. ↓
3 750 Kč
Více o produktu ↓
This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of the book. Part 2 describes how
- Výrobce
- Apple Academic Press Inc.
- Jazyk
- Canada
- Autor
- Lee, Myeongkyu
- Rozměry
- 229 x 152
- Rok vydání
- 2016
- Počet stran
- 302
- Obsah
- Hardback
- Hmotnost
- 720
- Počet stran
- 302 pages, 219 Illustrations, black and white
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s X-Ray Diffraction for Materials Research a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
