X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition)
Vše od
Imperial College Press
ISBN: 9781860943607
A practical guide to the analysis of materials, including a description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.
3 643 Kč
- 1 - 2 ks
- 3 643 Kč
- 3 - 10 ks
- 3 607 Kč
- 11 a více ks
- 3 572 Kč
Naše cena 3 643 Kč je o 6 % nižší než
doporučená cena výrobce 3 875 Kč.
Předpoklad doručení do 27. května *
* Termín expedice je odhadovaný a může se mírně upravit podle termínu dodání od našeho dodavatele. Pokud by došlo ke změně, vždy vás budeme včas informovat.
Nepřehlédněte od Imperial College Press ↓
3 643 Kč
Více o produktu ↓
A practical guide to the analysis of materials, including a description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.
- Výrobce
- Imperial College Press
- Jazyk
- United Kingdom
- Autor
- Fewster, Paul F (Panalytical Research, Uk)
- Rok vydání
- 2003
- Počet stran
- 316
- Obsah
- Hardback
- Počet stran
- 316 pages
Zanechte své hodnocení
Budeme rádi, když se podělíte o svou zkušenost s X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition) a pomůžete tak ostatním zákazníkům při výběru.
Navíc každý měsíc losujeme jednoho z těch, kteří nám zanechali recenzi, a obdarujeme ho kuponem na nákup v hodnotě 500 Kč. Možná právě Vy budete tím šťastným – držíme palce!
