Počet produktů výrobce: 12271
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
EAN: 9783540284055
5287 Kč
Oracle Inequalities in Empirical Risk Minimization and Sparse Recovery Problems
EAN: 9783642221460
1469 Kč
Informace o Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Kontaktní informace výrobce nejsou aktuálně dostupné online.
Napište nám na info@bookshop.cz.